薄膜専用X線回折システム　TFXRD　―大口径ウェーハ対応，薄膜評価用X線回折装置― 2025-10-01

56巻2号通巻124号（2025年10月）

モジュール化された計測機器を統合したデジタルラボラトリーの開発 2025-10-01

相場 諒, 西尾 和記, 一杉 太郎

56巻2号通巻124号（2025年10月） - 相場 諒, 西尾 和記, 一杉 太郎

X線小角散乱法を用いた半導体デバイス構造の 3 次元形状計測 2024-10-01

後藤 拓実

55巻2号通巻122号 (2024年10月) - 後藤 拓実

大型試料・長尺試料にも対応　多目的大型3D マイクロCT　CT Lab HV 2023-10-01

54巻2号通巻120号（2023年10月）

機械学習によるスペクトル解析と全反射蛍光X線分析への応用 2021-04-01

堂井 真,菊田 真也

52巻1号通巻115号（2021年4月） - 堂井 真,菊田 真也

薄膜評価用蛍光Ｘ線分析装置によるMEMSデバイス材料評価 2019-10-01

青木 悠

50巻2号通巻112号（2019年10月） - 青木 悠

Ｘ線顕微鏡（CT）nano3DXによる電子部品観察 2019-04-01

武田 佳彦

50巻1号通巻111号（2019年4月） - 武田 佳彦

最先端分析機器が拓く革新的有機半導体材料の開発 2018-04-01

岡本 敏宏

49巻1号通巻109号（2018年4月） - 岡本 敏宏

SmartLabで実現できる様々な極点測定法と薄膜解析のアプリケーション 2018-04-01

稲葉 克彦

49巻1号通巻109号（2018年4月） - 稲葉 克彦

次世代機能性酸化物薄膜材料の評価 ―2 次元検出器を活用して― 2016-04-01

小林 信太郎,稲葉 克彦

47巻1号通巻105号（2016年4月） - 小林 信太郎,稲葉 克彦

2014年 青色LED ノーベル物理学賞受賞によせて，20世紀は白熱灯が照らし21 世紀はLEDが照らす．そして材料科学の道もまた照らされる． 2015-04-01

稲葉 克彦

46巻1号通巻103号（2015年4月） - 稲葉 克彦

GaN材料の評価技法について　（光エレクトロニクス・パワーデバイス特集①） 2013-10-01

稲葉 克彦

44巻2号通巻100号（2013年10月） - 稲葉 克彦

光エレクトロニクス・パワーデバイスの熱分析による評価―発生ガス分析と熱刺激電流によるアプローチ―（光エレクトロニクス・パワーデバイス特集③） 2013-10-01

平山 泰生

44巻2号通巻100号（2013年10月） - 平山 泰生

高分解能Ｘ線回折法によるGaN材料の評価　（光エレクトロニクス・パワーデバイス特集②） 2013-10-01

稲葉 克彦

44巻2号通巻100号（2013年10月） - 稲葉 克彦

ハイブリッドピクセル検出器搭載単結晶Ｘ線回折装置XtaLAB P200の特長と測定例 2013-10-01

油家 一晃

44巻2号通巻100号（2013年10月） - 油家 一晃

SiCウェーハの結晶欠陥と新型X線トポグラフ装置　（パワーデバイス特集③） 2012-10-01

表 和彦

43巻2号通巻98号（2012年10月） - 表 和彦

全反射蛍光X線分析によるパワー半導体デバイスのウェーハ汚染評価　（パワーデバイス特集②) 2012-10-01

河野 浩

43巻2号通巻98号（2012年10月） - 河野 浩