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積層セラミックコンデンサの3軸応力解析	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd3007-microarea-mlcc-tri-axial-residual-stress	Sep 1, 2026, 12:06:02 AM	アプリケーションノート B-XRD3007
微小部X線回折装置を用いた溶融亜鉛メッキの断面における相分布評価	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1171-microarea-plating-cross-section-qualitative	Aug 28, 2026, 4:52:31 AM	アプリケーションノート B-XRD1171
広角X線回折装置を用いた少量無機粉末試料の定性分析	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd116-waxs-small-quantity-qualitative-analysis	Aug 26, 2026, 4:31:54 AM	アプリケーションノート B-XRD1164
広角X線回折装置を用いた単繊維の配向および構造解析	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1163-waxs-single-fiber-orientation-structure-analysis	Aug 26, 2026, 4:31:49 AM	アプリケーションノート B-XRD1163
X線回折法によるレアアース鉱石の結晶相同定・定量分析	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1172-phase-identification-quantitative-analysis-ore	Aug 21, 2026, 7:37:06 AM	アプリケーションノート B-XRD1172
部分積算測定を用いた粉末X線回折/Rietveld法による微量成分の定量精度向上	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1152-partial-rietveld-trace-quantitative-analysis	Jul 22, 2026, 4:40:58 AM	アプリケーションノート B-XRD1152
微小部X線回折装置によるチタン酸バリウム焼結体上の黒色異物の結晶相同定	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1170-microarea-barium-titanate-qualitative-analysis	Jul 22, 2026, 4:41:05 AM	アプリケーションノート B-XRD1170
Rθアタッチメントを用いた8インチ基板上金属膜のフルマップ評価	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd2038-metal-film-full-map-evaluation	Jul 8, 2026, 1:15:47 AM	アプリケーションノート B-XRD2038
X線回折法によるニッケル鉱石の結晶相同定・定量分析	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1168-nickel-ore-identification-quantitative-analysis	Jul 7, 2026, 11:55:34 PM	アプリケーションノート B-XRD1168
インプレーンX線回折装置による基板上薄膜の異方的・非線形的熱膨張の観測	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd2039-inplane-anisotropic-nonlinear-thermal-expansion	Jul 7, 2026, 12:04:11 AM	アプリケーションノート B-XRD2039
X線回折法による銅鉱石の結晶相同定・定量分析	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1166-copper-ore-identification-quantitative-analysis	Jun 17, 2026, 5:09:53 AM	アプリケーションノート B-XRD1166
高精度薄膜評価用X線回折装置を用いた大口径Si基板上自然酸化膜の評価	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd2037-thin-film-thickness-density-roughness-xrr	May 15, 2026, 1:29:02 AM	アプリケーションノート B-XRD2037
XRD-DSCと単結晶X線構造解析による医薬品結晶多形の構造決定	https://rigaku.com/ja/products/crystallography/x-ray-diffraction/application-notes/b-scx1014-xrddsc-polymorphs-xray-singlecrystal-pharmaceutical	Mar 27, 2026, 12:58:08 AM	アプリケーションノート B-SCX1014
広角X線回折法とin-situ測定による高分子フィルムの異なる延伸倍率における配向度評価	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1162-waxs-polymer-orientation-draw-ratio	Mar 9, 2026, 12:16:20 AM	アプリケーションノート B-XRD1162
高速時分割測定を用いた高分子結晶化挙動の温度依存性解析	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1169-polymer-phase-transition-time-resolved	Mar 9, 2026, 12:16:02 AM	アプリケーションノート B-XRD1169
X線回折法による鉄鉱石の結晶相同定・定量分析	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1165-iron-ore-identification-quantitative-analysis	Feb 23, 2026, 11:55:40 PM	アプリケーションノート B-XRD1165
最新型SC-XRDシステムによる極微小結晶の構造解析	https://rigaku.com/ja/products/crystallography/x-ray-diffraction/application-notes/b-scx1013-synergy-micro-latest-xray-single-crystal-structure	Dec 4, 2025, 12:51:53 AM	アプリケーションノート B-SCX1013
X線回折法によるペロブスカイト太陽電池膜 深さ方向の結晶相分布評価	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/xrd1159-perovskite-solar-cell-crystal-depth	Dec 3, 2025, 4:47:09 AM	アプリケーションノート B-XRD1159
新型検出器XSPA-400 ERを用いた鉄基アモルファス・鉄基ナノ結晶薄帯中の微量結晶相の検出	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/xrd1013-iron-amorphous-nanocrystalline-xspa-trace	Jul 28, 2025, 4:00:59 AM	アプリケーションノート XRD1013
ラミネートセルを用いた温調-充放電-XRD測定	https://rigaku.com/ja/industries/environment-and-energy/batteries/application-notes/batt1018-xrd-temperature-control-laminated-cell	Aug 15, 2024, 6:25:59 PM	アプリケーションノート BATT1018
全固体電池セルを用いた充放電-XRD測定	https://rigaku.com/ja/industries/environment-and-energy/batteries/application-notes/batt1017-xrd-charge-discharge-solid-state-batteries	Aug 15, 2024, 5:59:51 PM	アプリケーションノート BATT1017
ラミネートセル型電池を用いたオペランド測定	https://rigaku.com/ja/industries/environment-and-energy/batteries/application-notes/batt1016-xrd-charge-discharge-laminated-cell-batteries	Aug 15, 2024, 5:03:16 PM	アプリケーションノート BATT1016
全固体電解質Li3PS4の局所構造解析	https://rigaku.com/ja/industries/environment-and-energy/batteries/application-notes/batt1015-local-structure-solid-state-electrolyte	Aug 15, 2024, 4:52:20 PM	アプリケーションノート BATT1015
気密試料ホルダーを用いた全固体電解質Li₇P₃S₁₁の測定	https://rigaku.com/ja/industries/environment-and-energy/batteries/application-notes/batt1014-solid-state-electrolyte-airtight-holder	Aug 15, 2024, 4:40:28 PM	アプリケーションノート BATT1014
負極材シリコンの結晶子径·粒子径算出	https://rigaku.com/ja/industries/environment-and-energy/batteries/application-notes/batt1013-crystallite-diameter-silicon-electrode	Aug 15, 2024, 4:09:35 PM	アプリケーションノート BATT1013
BVS法を用いた価数とリチウムイオン拡散経路の推定	https://rigaku.com/ja/industries/environment-and-energy/batteries/application-notes/batt1012-lithium-diffusion-path-bvs-method	Aug 15, 2024, 3:55:47 PM	アプリケーションノート BATT1012
高エネルギー分解能検出器XSPA-400 ERを用いた 正極材NCMの測定	https://rigaku.com/ja/industries/environment-and-energy/batteries/application-notes/batt1011-ncm-cathode-measurement-xspa-400er	Aug 15, 2024, 3:15:47 PM	アプリケーションノート BATT1011
正極材NCM焼成時の相変化挙動の調査	https://rigaku.com/ja/industries/environment-and-energy/batteries/application-notes/batt1010-phase-transition-analysis-ncm-cathode-firing	Aug 15, 2024, 2:58:47 PM	アプリケーションノート BATT1010
負極材黒鉛の黒鉛化度管理	https://rigaku.com/ja/industries/environment-and-energy/batteries/application-notes/batt1003-graphitization-degree-graphite-anode	Aug 14, 2024, 6:49:58 PM	アプリケーションノート BATT1003
ニッケル·コバルト混合硫化物中の不純物（硫酸塩）定量分析	https://rigaku.com/ja/industries/environment-and-energy/batteries/application-notes/batt1001-quantitative-analysis-nickel-cobalt-sulfide	Aug 9, 2024, 8:01:08 PM	アプリケーションノート BATT1001
医薬品のためのin-situ同時DSC-湿度-粉末X線回折測定	https://rigaku.com/ja/industries/biotech-and-life-science/pharmaceuticals/application-notes/phrm0002-simultaneous-xrd-dsc-humidity-analysis	Mar 13, 2024, 4:05:42 PM	アプリケーションノート PHRM0002
電池材料評価	https://rigaku.com/ja/industries/environment-and-energy/batteries/application-notes/batt0002-battery-material-characterization	Feb 29, 2024, 2:36:01 PM	アプリケーションノート BATT0002
電池材料開発	https://rigaku.com/ja/industries/environment-and-energy/batteries/application-notes/batt0001-battery-material-development	Feb 29, 2024, 2:36:01 PM	アプリケーションノート BATT0001
Ｘ線回折装置による鉄鋼材料の 定性・定量分析と残留応力解析	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/xrd1008-steel-qualitative-quantitative-residual-stress-analysis	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート XRD1008
Ｘ線回折装置による耐火物結晶相の Rietveld 定量分析	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/xrd1007-xrd-rietveld-quantitative-analysis-refractory-phases	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート XRD1007
Ｘ線回折装置による高分子の配向評価	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/xrd1006-polymer-orientation-analysis-xrd	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート XRD1006
粉末Ｘ線回折法による高分子の評価	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/xrd1004-polymer-characterization-powder-xrd	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート XRD1004
小角散乱を用いた毛髪構造の分析 ‐毛髪の内部構造変化の評価例-	https://rigaku.com/ja/products/crystallography/x-ray-diffraction/application-notes/scx2003-internal-hair-structure-change-saxs	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート SCX2003
粗大結晶粒からなる電磁鋼板の 残留応力評価への試料揺動の効果	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd3003-electromagnetic-steel-residual-stress-oscillation-effect	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート B-XRD3003
高速逆格子マップによるIII-V 族窒化物薄膜の 結晶方位の乱れた成分の検出	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd2036-high-speed-reciprocal-space-mapping-crystal-orientation-analysis	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート B-XRD2036
III-V 族窒化物薄膜のチルト幅・ツイスト幅の 試料面内分布評価	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd2035-nitrite-film-tilt-twist-width-in-plane-distribution	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート B-XRD2035
反射Ｘ線トポグラフィによる シリコンカーバイド単結晶基板の転位観察	https://rigaku.com/ja/products/semiconductor-metrology/xrt/application-notes/b-xrd2033-dislocation-sic-substrate-reflection-x-ray-topography	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート B-XRD2033
Ｘ線回折装置による強誘電体薄膜の配向評価	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd2008-orientation-analysis-ferroelectric-thin-film	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート B-XRD2008
Ｘ線回折装置による反射小角Ｘ線散乱法を用いた Low-k 膜の空孔サイズ分布の評価	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/saxs/application-notes/b-xrd2004-low-k-film-pore-size-distribution-reflection-saxs	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート B-XRD2004
シームレス多次元ピクセル検出器を用いた電池正極材料中の微量成分検出	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1155-detect-trace-components-cathode-materials-2d-detector	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート B-XRD1155
フィルム垂直透過Ｘ線回折法による医薬品の配向抑制測定	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1154-transmission-xrd-suppress-preferred-orientation-pharmaceutical-drugs	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート B-XRD1154
2次元検出器を用いた XRD-DSC 同時測定によるアセトアミノフェンの相転移追跡	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1153-xrd-dsc-phase-transition-acetaminophen	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート B-XRD1153
XRD-DSC 同時測定によるスタチン系薬の 結晶相変化の観察	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1151-xrd-dsc-phase-transition-statin-drug	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート B-XRD1151
クラスター解析による三元系正極材の組成比分別	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1148-cluster-analysis-composition-cathode-materials	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート B-XRD1148
気密試料ホルダーを用いた吸湿性製剤の測定	https://rigaku.com/ja/products/x-ray-diffraction-and-scattering/xrd/application-notes/b-xrd1145-airtight-holder-hygroscopic-pharmaceutical-drug	Jan 2, 2024, 3:38:15 PM	アプリケーションノート B-XRD1145